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Análisis numérico para el fallo progresivo de la interfaz de medio binario bajo corte.

Autores: Cao, Rihong; Tang, Wenyu; Lin, Hang; Fan, Xiang

Idioma: Inglés

Editor: Hindawi

Año: 2018

Disponible con Suscripción Virtualpro

Artículos


Categoría

Ingeniería y Tecnología

Licencia

Atribución – Compartir igual

Consultas: 10

Citaciones: Sin citaciones


Descripción
Se fabricaron especímenes binarios-medios utilizando el código de flujo de partículas, y se estudió la resistencia al corte, la dilatación y el comportamiento de falla de los especímenes binarios-medios con diferentes relaciones de resistencia de unión (0.25, 0.5, 0.75 y 1.0) bajo diferentes tensiones normales. Los resultados numéricos muestran que la relación de resistencia de unión y las tensiones normales influyen considerablemente en las resistencias al corte de la interfaz binaria-media. La resistencia al corte aumenta a medida que la relación de resistencia de unión y la tensión normal aumentan. La dilatación de las interfaces con relaciones de resistencia de unión altas es más evidente que la de las interfaces con relaciones de resistencia de unión bajas, y las curvas para la relación de resistencia de unión alta muestran fluctuaciones notables durante la etapa residual. Con el aumento de la tensión normal y la relación de resistencia de unión, el ángulo de dilatación máxima muestra tendencias

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